覆層測(cè)厚儀跟涂層測(cè)厚儀相比較有什么優(yōu)勢(shì)

 涂層測(cè)厚儀是新開發(fā)的產(chǎn)品。與以往的涂層測(cè)厚儀相比，主要有以下優(yōu)點(diǎn)：
?? 1、測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其他TT系列快6倍；
?? 2、精度高：產(chǎn)品經(jīng)過簡(jiǎn)單校準(zhǔn)，精度可達(dá)1-2%。是市場(chǎng)上可以達(dá)到*的產(chǎn)品，精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品
??3、穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
?? 4、功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示均為中文；
??由材料表面保護(hù)和裝飾，如涂層、電鍍、覆層、粘貼、化學(xué)成膜等形成的覆蓋層，在相關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為涂層。涂層測(cè)厚已成為加工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢驗(yàn)的重要組成部分，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)良質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品及涉外項(xiàng)目對(duì)涂層厚度有明確要求。
??涂層厚度的測(cè)量方法主要有：楔形切割法、截光法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測(cè)量法和渦流測(cè)量法方法等。這些方法中的前五種是破壞性測(cè)試。測(cè)量方法繁瑣、速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
?? X射線和β射線法是非接觸、無損測(cè)量，但設(shè)備復(fù)雜、價(jià)格昂貴，測(cè)量范圍小。由于存在放射源，用戶必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。 X射線法可以測(cè)量極薄的鍍層、雙層鍍層和合金鍍層。 β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和基材的測(cè)量。電容法僅用于測(cè)量細(xì)導(dǎo)體絕緣涂層的厚度。
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